光学金相显微镜用途非常广泛,如在铸造企业其主要研究晶体缺陷,如观察半导体晶体中的位错、体内层错和氧化层错、晶格点阵无序等结构缺陷。如在实际应用探讨铁素体系球墨铸铁之奥氏体结构,及均质化与温度对奥氏体的影响,并比较球墨铸铁与钢之奥氏体化反应的差异及其原因。根据光学金相显微镜组织观察的情况从而对材料分级及工业调整,是铸造企业必不可少的设备之一。
而在金相光学显微镜操作流程观察时,像这些经均质化处理后之球墨铸铁,其奥氏体优先成核位置为球墨铁素体界面,而在球墨周围之奥氏体成长,主要是依靠碳原子的扩散进行,而未均质化球墨铸铁的优先成核、成长位置,包括球墨铁素体界面与共晶胞晶界等,而在这类金相组织观察时,因避免观察时金相分析显微镜出现色差影响观察。
这是因为金相光学显微镜在观察时出现色差,会影响数码设备对结晶体结构的抓拍识别,因为色差现象的产生是由于光轴上的物点发出的多色光经单透镜成像时,各色光对应的不重合的像点而造成的,在产生色差现象后,在观察成像效果上,观察区域周围会产生模糊化,从而影响大家的观察效果,因此45°金相显微镜就采用除色差技术,从根本上解决此类问题,大家在使用时也更放心。
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